Turun yliopistosta idean kanssa Yrityssalon Protomoon ja Kovilta Oy syntyy. Prosessin kontrollointia toteuttavan kamerateknologian kaupallistaminen leipoi kolmesta tohtorismiehestä yrittäjiä. Ei niin tavallinen tarina.

Jonne Poikonen, Ari Paasio ja Mika Laiho eivät sännänneet soitellen sotaan, vaan elektroniikka-alan tekniikan tohtorit ovat tehneet tutkimustyötä vaihtelevasti 10 – 15 vuotta. Teknologia perustuu omaan kamerapiiriin, joka tekee myös kuvan sisällön analysointiin tarvittavaa laskentaa. Kaikki tapahtuu yhdellä integroidulla piirillä.

Viivakoodin tunnistus pullonpalautusautomaatilla on jokaiselle tuttua konenäköä. Nyt kehitteillä oleva menetelmä on suunnattu järeämpiin töihin teollisuuden prosessikontrolliin. Se pystyy analysoimaan kuvaa tehokkaammin kuin ennen.

- Homma on vielä tuotekehitysvaiheessa, ja alkurahoitusta on omien likoon pistettyjen eurojen lisäksi saatu Tekesiltä, Keksintösäätiöltä ja Runar Bäckströmin Säätiöltä, toimitusjohtaja Jonne Poikonen selvittää.

Kasvuyritys

Tavoitteena on astua markkinoille ensi vuonna. Ensin lähimarkkinoille, jatkossa tähtäin on asetettu ulkomaille. Patentteja haetaan sitä mukaa kun prosessit edistyvät. Yrityksen tukikohta on Salossa Innomossa, Yrityssalon toimitiloissa. Testipaja on Vantaalla Mika Laihon käsissä. Myynti ja markkinointi askarruttavat.

- Myymme tuotetta ja järjestelmää, investointihyödykettä, joka räätälöidään asiakkaalle. Ensin lähestytään teollisuutta. Kuluttajamarkkinoillakin on tarvetta, mutta sen aika on myöhemmin, Poikonen sanoo.

Muutamassa vuodessa yritys uskoo tuotteen markkinaimuun tuotekehityksen jatkuessa taustalla. Kasvua tavoitellaan.

- Meillä on vahva osaaminen, kilpailukykyinen tuote, laajat markkinat, monta kohdetta, ja halu tehdä tämä paketti kunnolla. Halusimme käyttää tilaisuutemme. Heikkoudetkin olemme mielestämme tunnistaneet, ja haemme niihin tukea ja apua.

Kovilta Oy voitti Salon alueella järjestetyn Boost it Up! –yritysideakilpailun tänä keväänä.

Jonne Poikonen kertoo kehitellyn uuden teknologian yhdistävän kuvan ja sen analysoinnin samalle integroidulle piirille.